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          當前位置:首頁  >  產品中心  >  日置Hioki  >  元器件參數測試附件  >  3504-40C測試儀

          C測試儀

          簡要描述:C測試儀 3504-40
          封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
          C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C

          • 產品型號:3504-40
          • 廠商性質:代理商
          • 更新時間:2025-06-06
          • 訪  問  量:1047

          詳細介紹

          品牌HIOKI/日本日置應用領域綜合

          C測試儀 3504-40

          封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
          C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C

          ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷
          ● 對應測試線,比較器功能/觸發輸出功能
          ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
          ● 3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試
          ● 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率

          輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件


            • 概要

            • 規格

            • 選件

            • 相關下載





              基本參數

              測量參數Cs,Cp(電容),D(損耗系數tanδ)
              測量范圍C:0.9400pF~20.0000mF
              D:0.00001~1.99000
              基本精度(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
              ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E為各系數
              測量頻率120Hz, 1kHz
              測量信號電平恒壓模式: 100mV (僅限3504-60), 500 mV, 1 V
              測量范圍:
              CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
              CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
              CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)
              輸出電阻(CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時)
              顯示發光二級管 (6位表示,滿量程計算器根據量程而定)
              測量時間典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
              ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同
              功能BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標配), GP-IB接口(3504-40除外)
              電源AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大110VA
              體積及重量260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
              附件電源線×1,預備電源保險絲×1,使用說明書×1
              PC 通訊器
              • C測試儀
                GP-IB連接線9151-02

                2m長

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              打印機
              • C測試儀
                打印機 9442

                數碼打印

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              • C測試儀
                AC適配器9443-02

                適用于打印機9442

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              • C測試儀
                連接電纜 9444

                適用于9442, 線長:1.5 m

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              • C測試儀
                記錄紙 1196

                112mm x 25m, 10卷/盒

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              測試冶具或電纜
              • C測試儀
                SMD測試治具9699

                用于底部有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:寬1.0~4.0mm,高1.5

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              • C測試儀
                SMD測試治具9677

                用于側面有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:3.5mm±0.5mm

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              • C測試儀
                SMD測試治具9263

                直接連接型, DC~5 MHz 測試尺寸: 1mm~10.0mm

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              • C測試儀
                測試治具9262

                DC~8 MHz, 直接連接型

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              • C測試儀
                測試治具9261

                電纜連接型, DC ~ 5 MHz, 1m長

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              • C測試儀
                鑷形探頭L2001

                線長73cm,DC~8MHz,50Ω,前端電極間隔:0.3~6mm

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              • C測試儀
                4端子測試探頭 9140

                DC~100kHz, 1m長

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              最shi用于分揀·檢查的電容測試儀電容測試儀 3506-10 ·模擬測量時間0.5ms(1MHz)的高速測量·抗干擾性提高,微小電容的反復精度大幅提高·使用1MHz穩定測量低容量電容電容測試儀 3504-60,3504-50,3504-40 · 模擬測量時間1ms(1kHz)可測量定電壓,最shi用于測量高容量MLCC ·可測量高達1.45mF的高容量定電壓(120Hz,500mV時) ·3504-60可進行4端子接觸檢查。

              3506-10, 3504-60, 3504-50, 3504-40共通優點共通優點 

              ■對應JIS C 5101-1的電容測試儀3506~3504的測量頻率電容的種類去除電解電容的電容容量范圍C C≤1000pF 1000pF<C≤10µF測量頻率[Hz]

               ●記號為推薦頻率1M對應機型 

              ● 3506-10 1k ● 120 10µF<C電解電容 

              ■ BIN功能---C測量根據測量值最多分類為14個等級※1,易于進行分揀等。※1  3506,3505最多為13個等級。3504-40無BIN功能。 

              ● 120 ○ 

               ■ 只需選擇的簡單操作&LED顯示3504-60 3504-50 3504-40 3511-50 (參考)只需從面板標記項目中進行選擇,操作簡單。設定好的測量條件會點亮,能夠一目了然把握設定條件。 

              ■ 比較器功能第一參數(C)、第2參數(D)可各自設置上下限值。判定結果可進行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出,設定值始終顯示。 

              ■ 存儲功能測量數據可保存在主機。可通過GP-IB,RS-232C讀出。 3506-10 ......................................1,000個 3504-60, 3504-50, 3504-40 ......32,000個 

              ■ 觸發同步輸出功能施加觸發后輸出測量信號,僅在測量時將信號施加到被測物上。因為是在接觸被測物時流過大電流,因此能夠減少接點的損耗。 

              ■可存儲99※2組測量條件最多可保存99組測量條件,可迅速對應在重復測量較多的產線上切換被測物的情況。可利用EXT I/O讀出任意測量條件。※2  3506-10最多為70組。 

              ■標配接觸檢查功能可檢測出測量過程中的接觸錯誤。可另外管理有過接觸錯誤的樣品,對提高成品率做出貢獻。

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